Chroma 1870D系列(1870D/1870D-12)是一款為芯片型電感所設(shè)計的自動化測試生產(chǎn)設(shè)備，包含芯片電感所需的各項測試功能，并具備制程終端的卷帶包裝自動化機械，達到生產(chǎn)線的制造自動化。
Chroma 1870D/1870D-12的標(biāo)準(zhǔn)測試功能包含電感值(Ls)/質(zhì)量因素(Q)量測、繞線電阻(RDC)量測、極性(Polarity)測試，并可選配層間短路測試(IWT)、絕緣電阻(IR)測試及重疊電流(BIAS Current)測試，包含芯片電感的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格及質(zhì)量相關(guān)的測試項目。
為因應(yīng)現(xiàn)今電子產(chǎn)品，微型電感被大量使用，相對的電感需大量生產(chǎn)，Chroma 1870D/1870D-12*大生產(chǎn)效率為1,200ppm，可滿足龐大的需求數(shù)量。除測試外，1870D/1870D-12也具備自動包裝機械，可將產(chǎn)品自動封裝于包裝卷帶，以符合SMD生產(chǎn)所需樣式。
Chroma 1870D/1870D-12的供料模塊采用圓盤振動送料，圓盤振動送料可高速運送薄型化產(chǎn)品。圓盤振動送料透過軌道設(shè)計、光纖偵測及氣孔吹氣決定入料方向，相較于以往的直線往復(fù)式的機械送料，較快速也省空間。
傳統(tǒng)往復(fù)式機械或炮塔式機械架構(gòu)在測試移載時，是以吸嘴設(shè)計吸附產(chǎn)品進行移載，往往在移載時受移動慣性影響發(fā)生產(chǎn)品掉落，或因定位不準(zhǔn)確而無法測試。Chroma 1870D/1870D-12的測試區(qū)以導(dǎo)引盤架構(gòu)設(shè)計，整體為封閉式的架構(gòu)， 在進行高速移載時不會有產(chǎn)品遺漏的疑慮，相較于傳統(tǒng)機械架構(gòu)更快速及穩(wěn)定。
致茂電子專精于電子測試技術(shù)，對于自動測試設(shè)備的測試治具也有專門的設(shè)計。Chroma 1870D /1870D-12測試站所使用的測試座為四線式量測設(shè)計，比一般自動測試設(shè)備更精準(zhǔn)穩(wěn)定。測試座與產(chǎn)品的連接端采片式設(shè)計，相較于探針于使用上容易接觸且壽命長，于量測上片式設(shè)計也較探針穩(wěn)定且容易維護。
Chroma 1870D/1870D-12具備專用軟件，可于生產(chǎn)過程中實時監(jiān)控測試狀態(tài)，將每一個產(chǎn)品的測試數(shù)據(jù)搜集儲存。實時監(jiān)控功能利于生產(chǎn)單位于生產(chǎn)時降低生產(chǎn)風(fēng)險，減少不必要生產(chǎn)工時。數(shù)據(jù)搜集功能有利于研發(fā)及品保單位做產(chǎn)品分析或 質(zhì)量控管，透過軟件協(xié)助提升生產(chǎn)質(zhì)量。
產(chǎn)品應(yīng)用
研發(fā)、品保批量驗證
研發(fā)及品保單位針對產(chǎn)品會進行所有特性檢測，分別為基本電氣特性及質(zhì)量相關(guān)測試，測試站別則包含極性測試、層間短路測試 (或選擇重疊電流測試)、繞線電阻測試及電感/質(zhì)量因素測試，進而搜集與分析測試數(shù)據(jù)以評估質(zhì)量，或進行產(chǎn)品打樣試產(chǎn)。Chroma 1870D/1870D-12系統(tǒng)提供彈性化選擇，依不同單位或需求選擇搭配測試站別。
產(chǎn)線全功能電氣特性測試
比照研發(fā)端，將全部電氣特性測試納入生產(chǎn)線，包含極性測試、層間短路測試(或選擇重疊電流測試)、繞線電阻測試及電感/質(zhì)量因素測試。
產(chǎn)線標(biāo)稱值快速測試
針對產(chǎn)線僅測試標(biāo)稱值來達到快速生產(chǎn)的需求，測試項目則調(diào)整為繞線電阻測試及電感/質(zhì)量因素測試。
系統(tǒng)預(yù)留空間搭配標(biāo)印及標(biāo)印光學(xué)檢查
部分功率電感需在頂部做標(biāo)印，以判別電感極性方向或樣式類別。Chroma 1870D/1870D-12可配合將客戶現(xiàn)有的標(biāo)印系統(tǒng)及光學(xué)檢查系統(tǒng)安裝整合于系統(tǒng)內(nèi)。
